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021-58589528
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Glacier? X

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Product number
緊湊型、高性能、TE 致冷 CCD 光譜儀
Product number
緊湊型、高性能、TE 致冷 CCD 光譜儀
規(guī)格:
Glacier? X 是一款高性能TE制冷線陣CCD光譜儀，探測(cè)器具有2048個(gè)像元，光譜儀內(nèi)置16位模數(shù)轉(zhuǎn)換，高速USB2.0數(shù)據(jù)接口，是長(zhǎng)時(shí)間檢測(cè)應(yīng)用的理想選擇。與非制冷CCD光譜儀相比Glacier? X 可提供更高的動(dòng)態(tài)范圍，更低的光譜儀噪聲，更優(yōu)異的長(zhǎng)期穩(wěn)定性，所以非常適合弱光檢測(cè)和長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)監(jiān)測(cè)等應(yīng)用。 Glacier? X 系列光譜儀的最低檢測(cè)波長(zhǎng)可至200nm，最高可至1050nm。根據(jù)不同的配置，光譜分辨率0.2—4.5nm可選。靈活的配置及完備的應(yīng)用支持，使其成為OEM應(yīng)用的理想選擇。 該光譜儀是整體解決方案的重要組成部分?？蔀镺EM應(yīng)用提供系統(tǒng)開發(fā)和應(yīng)用支持。
產(chǎn)品分類：紫外-可見(jiàn)-近紅外光譜儀
Quantity
-
+
Stock:
0
產(chǎn)品介紹
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技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品視頻
產(chǎn)品特性：
  • 紫外-近紅外波段
  • >0.2nm 光譜分辨率
  • TE制冷/控溫
  • 16位數(shù)字轉(zhuǎn)換
  • 500 kHz 讀出速度
  • 即插即用USB 2.0數(shù)據(jù)傳輸
  • 提供OEM版本
 
應(yīng)用：
  • 紫外/可見(jiàn)/近紅外波段：光譜分析/光譜輻
  • 射測(cè)量/分光光度測(cè)定
  • 長(zhǎng)積分檢測(cè)
  • 吸光度測(cè)量
  • 反射率測(cè)量
  • OEM光學(xué)儀器組件
 
產(chǎn)品附件：
  • 光源
  • 光纖
  • 光纖探頭
  • 比色皿支架
  • 直通式濾光片支架
 
軟件：
BWSpec®光譜數(shù)據(jù)采集軟件可執(zhí)行復(fù)雜的測(cè)量和計(jì)算。它允許用戶在多種數(shù)據(jù)格式之間進(jìn)行選擇，并可以設(shè)置掃描參數(shù)，如積分時(shí)間。除了強(qiáng)大的數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理功能外，還包括自動(dòng)去除暗電流、光譜平滑和手動(dòng)/自動(dòng)基線校正等功能。并可額外提供帶演示代碼的SDK。
 
TE半導(dǎo)體致冷：
采用內(nèi)置的TE制冷器對(duì)陣列探測(cè)器進(jìn)行制冷是降低暗噪聲的有效手段，在增加探測(cè)器的動(dòng)態(tài)范圍同時(shí)提高了其檢測(cè)限。
當(dāng)CCD探測(cè)器從室溫25℃降低到14℃時(shí)，其暗電流降低約4倍，其暗電流噪聲將降低約2倍。這使得光譜儀可以進(jìn)行長(zhǎng)積分時(shí)間檢測(cè)以及弱光檢測(cè)。
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技術(shù)參數(shù)：
型號(hào)
BTC112E
直流輸入
5V DC, <1.5A
交流輸入
100-240VAC 50/60 Hz,0.5A@120VAC
探測(cè)器類型
響應(yīng)增強(qiáng)型線性CCD陣列
探測(cè)器像元
2048 x1 像元陣列 @ 像元尺寸14μm x 200μm
光譜儀f/#
3.2
光路類型
交叉式Czerny-Turner
動(dòng)態(tài)范圍
1300:1
數(shù)字分辨率
16-bit 或 65,535:1
讀出速度
500 kHz
數(shù)據(jù)傳輸速度
可達(dá)180譜/秒（USB 2.0）
積分時(shí)間
5 - 65,535ms
Aux接口
外部控制，數(shù)字I/O口
工作溫度
15 -35℃
工作相對(duì)濕度
85%非冷凝
TE 制冷
14℃
重量
0.6 kg
尺寸
127.0mm x 39.0mm x 90.7mm
數(shù)據(jù)接口
USB 2.0/1.1
操作系統(tǒng)
Windows: 7, 8, 10, 11
上一個(gè)
下一個(gè)

應(yīng)用指南

/APPLICATION GUIDE
/
用于拉曼和熒光光譜學(xué)的制冷光纖光譜
2022-02-10
使用陣列探測(cè)器和光纖輸入的緊湊型光譜儀正被用于各種 光譜應(yīng)用。從歷史上看，這種設(shè)計(jì)的局限性之一是檢測(cè)限 較差，特別是在低光照度的應(yīng)用，如熒光和拉曼光譜學(xué)。 性能下降的主要原因與非制冷探測(cè)器自身有較高的噪聲有 關(guān)。然而，熱電(TE)制冷光譜儀的技術(shù)突破可顯著降低噪 聲指標(biāo)，并可允許得到更長(zhǎng)積分時(shí)間的信號(hào)，從而降低檢 測(cè)限。在本應(yīng)用說(shuō)明中，我們通過(guò)將熱電(TE)制冷光譜儀 與非制冷設(shè)備進(jìn)行比較，來(lái)展示熱電(TE)制冷光譜儀在熒 光和拉曼光譜學(xué)中的優(yōu)勢(shì)。
/
正確地維護(hù)和使用光纖
2022-02-10
光纖用于現(xiàn)代光譜儀器是巨大的創(chuàng)新。利用光纖采樣有很 多優(yōu)勢(shì)，包括可以靈活地在不同的取樣點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量，使用 方便，以及靈活性強(qiáng)，便于運(yùn)輸。光纖采樣被廣泛應(yīng)用于 UV-Vis 光譜儀、NIR 光譜儀、激光激發(fā)的傳輸，拉曼的信號(hào)收集、熒光光譜儀和使用這些光譜學(xué)技術(shù)的在線過(guò)程分析儀。光纖技術(shù)將分析帶出了實(shí)驗(yàn)室，將原需要固定的臺(tái)式設(shè)備帶到任何可以想象到的地方進(jìn)行分析。然而，使用方式的靈活對(duì)光纖組件的相關(guān)護(hù)理和維護(hù)提出了更多的責(zé)任要求，這樣才能確保測(cè)量質(zhì)量和光纖的耐久性。
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